Определение диэлектрических характеристик изоляции электрооборудования при наличии токов влияния

Аннотация

Дан анализ работы современных широко распространённых микропроцессорных анализаторов состояния изоляции электрооборудования, работающих на промышленной частоте и реализующих метод двух измерений (расчётный метод). Приведены выражения и результаты расчётов погрешностей определения  tgδ, вызванных воздействием токов влияния на источник испытательного напряжения и неодинаковыми уровнями установки напряжения при первом и втором измерениях. Показано, что метод двух измерений даёт приемлемые погрешности, если разница напряжений при первом и втором измерениях не превышает 0,2 – 0,5%. Отмечено, что уровень дополнительных погрешностей у анализаторов состояния изоляции, использующих метод двух измерений, сопоставим с погрешностью простых анализаторов типа “Тангенс-2000”, работающих на непромышленной частоте и имеющих значимые дополнительные погрешности при токах влияния, существующих в распределительных устройствах.